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光學(xué)顯微鏡測(cè)量應(yīng)用為專(zhuān)家和入門(mén)者量身定制的全套測(cè)量解決方案無(wú)論您是負(fù)責(zé)行業(yè)的質(zhì)量控制還是在實(shí)驗(yàn)室里研發(fā)新型材料，數(shù)字顯微鏡系統(tǒng)都是您進(jìn)行研究的基礎(chǔ)。這樣的顯微鏡系統(tǒng)必須適合從新手到專(zhuān)家的各類(lèi)人群，能夠提供專(zhuān)業(yè)應(yīng)用模塊并符合內(nèi)部測(cè)試規(guī)程和新標(biāo)準(zhǔn)。簡(jiǎn)而言之，它是一套為您量身定制且能滿(mǎn)足您應(yīng)用需求的解決方案。實(shí)現(xiàn)微米和納米級(jí)研究觀測(cè)。交互式測(cè)量每次測(cè)量的基本參數(shù)包括面積、角度、周長(zhǎng)、直徑、重心以及其它許多參數(shù)。您需要交互式地確定需要獲得的某種測(cè)量參數(shù)或測(cè)量順序，并讓其按照的順序進(jìn)行...

光學(xué)顯微鏡勘探學(xué)和自然資源應(yīng)用地質(zhì)學(xué)自然資源領(lǐng)域中的商業(yè)活動(dòng)基于研究地球的地質(zhì)科學(xué)。從微體古生物學(xué)到礦物學(xué)研究，顯微鏡的成像與分析應(yīng)用已逾百年。諸如X射線(xiàn)分析和陰極熒光等技術(shù)結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）的優(yōu)勢(shì)，大大提升了我們?nèi)蚩蛻?hù)的研究實(shí)力?？勺儔毫呙桦娮语@微鏡能夠在無(wú)需鍍碳的情況下對(duì)薄片和拋光核芯進(jìn)行成像。環(huán)境成像可以定位儲(chǔ)油層沙石內(nèi)的親水部位，與離子束技術(shù)相結(jié)合可觀察頁(yè)巖內(nèi)的微空隙結(jié)構(gòu)。礦物辨別大部分巖石樣品由光學(xué)各異性材料組成。在光學(xué)顯微鏡下用于礦物辨別的兩個(gè)最重...

鋰離子電池高電壓正極材料獲系列進(jìn)展北大潘鋒團(tuán)隊(duì)3篇頂刊！鋰離子電池高電壓正極材料獲系列進(jìn)展鋰離子電池作為新一代的綠色儲(chǔ)能器件已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于人們的日常生活當(dāng)中，從移動(dòng)通訊設(shè)備到新能源汽車(chē)綠色出行。鈷酸鋰正極由于具有高的體積能量密度和穩(wěn)定性，一直占據(jù)移動(dòng)數(shù)碼產(chǎn)品電池市場(chǎng)。隨著移動(dòng)通訊設(shè)備對(duì)電池續(xù)航能力的要求越來(lái)越高，進(jìn)一步提升鈷酸鋰的能量密度具有重大產(chǎn)業(yè)需求。在各種可行的措施中，提高充電截止電壓獲取更高的比容量是一種最為直接有效的方法，但卻帶來(lái)循環(huán)穩(wěn)定性差的問(wèn)題。圍繞這一難題，...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|測(cè)量原理增強(qiáng)型光學(xué)測(cè)量技術(shù)Sensofar共聚焦白光干涉儀雖然一開(kāi)始作為高性能3D光學(xué)輪廓儀設(shè)計(jì)，但是我們的某些系統(tǒng)所有現(xiàn)有的光學(xué)輪廓儀，集所有技術(shù)于一身。Sensofar共聚焦白光干涉儀條紋投影非常適合大面積測(cè)量，垂直精度和可重復(fù)性高，系統(tǒng)噪聲低。產(chǎn)品陣容技術(shù)組合我們的Sensofar共聚焦白光儀系統(tǒng)采用不同光學(xué)測(cè)量技術(shù)進(jìn)行工作，一部分系統(tǒng)采用組合技術(shù)。聚集這些技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，外加技術(shù)和操作軟件，成就市場(chǎng)上競(jìng)爭(zhēng)力的高級(jí)測(cè)量設(shè)備。為何使用四合一技...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加主動(dòng)照明多焦面疊加是一種為了測(cè)量粗糙的表面形狀而開(kāi)發(fā)的光學(xué)技術(shù)。這項(xiàng)技術(shù)基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測(cè)量領(lǐng)域的廣泛專(zhuān)業(yè)知識(shí)，專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于補(bǔ)充低放大率下的測(cè)量BACKGROUNDSensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加原理主動(dòng)照明多焦面疊加技術(shù)利用了明場(chǎng)中存在景深的特點(diǎn)，樣品只有在的特定z范圍中對(duì)焦。景深會(huì)根據(jù)物鏡的數(shù)值孔徑或光源波長(zhǎng)而變化。Z高度的值是根據(jù)圖像的高對(duì)比度（清晰度或微小細(xì)節(jié)）來(lái)計(jì)算的從而得出正確的對(duì)焦位置...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦輪廓儀專(zhuān)為測(cè)量光滑表面到極粗糙表面而開(kāi)發(fā)。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率，可達(dá)0.15μm線(xiàn)條和空間，空間采樣可減少到0.01μm，這是關(guān)鍵尺寸測(cè)量的理想選擇。背景Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦技術(shù)能夠測(cè)量表面高度，將常規(guī)圖像轉(zhuǎn)換成光學(xué)剖面，其中，物鏡焦深范圍內(nèi)的那些區(qū)域的信號(hào)被保留，改善了圖像對(duì)比度、橫向分辨率和系統(tǒng)噪聲。光學(xué)方案對(duì)于3D成像，必須從相機(jī)的所有像素獲取數(shù)據(jù)。這意味著：重新構(gòu)建共聚焦圖像。為...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|白光干涉技術(shù)Sensofar共聚焦白光干涉儀為了測(cè)量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，開(kāi)發(fā)了干涉技術(shù)，可在任何放大倍率下實(shí)現(xiàn)相同的系統(tǒng)噪聲。對(duì)于PSI，它可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于0.01nm的系統(tǒng)噪聲。背景干涉工作原理干涉技術(shù)的工作原理是：將光分成光學(xué)傳播路徑不同的兩個(gè)光束，然后再合并，從而產(chǎn)生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)后，可在樣本上觀察到條紋。光學(xué)方案PSI的光學(xué)方案與FV具有相同配置，但是現(xiàn)在采用干涉物鏡而不是明場(chǎng)。為了獲...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|光譜反射技術(shù)光譜反射能快速、精確、無(wú)損地測(cè)量薄膜，且無(wú)需制備任何樣本。背景薄膜透明層沉積在表面上時(shí)，其反射率會(huì)變化。該系統(tǒng)獲取可見(jiàn)范圍內(nèi)樣本的反射光譜，并與軟件計(jì)算的模擬光譜進(jìn)行比較，對(duì)層厚進(jìn)行修改，直到找到匹配的厚度。對(duì)于薄膜，厚度與光波長(zhǎng)類(lèi)似，我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應(yīng)。主要特征從50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的時(shí)間內(nèi)測(cè)得從50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒內(nèi)采集一個(gè)物鏡可覆蓋整個(gè)范圍不同光斑大小(3.5μm到...